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Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán)
Peter Baumann (Autor)
·
Springer Vieweg
· Tapa Blanda
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán) - Peter Baumann
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Reseña del libro "Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit Pspice (en Alemán)"
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschlie ende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.
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El libro está escrito en Alemán.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
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