Compartir
Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (en Alemán)
Vanarajsinh Solanki
(Autor)
·
Abhay Dasadiya
(Autor)
·
Pramita Mishra
(Autor)
·
Verlag Unser Wissen
· Tapa Blanda
Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (en Alemán) - Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita
$ 75.51
$ 104.87
Ahorras: $ 29.36
Elige la lista en la que quieres agregar tu producto o crea una nueva lista
✓ Producto agregado correctamente a la lista de deseos.
Ir a Mis Listas
Origen: Estados Unidos
(Costos de importación incluídos en el precio)
Se enviará desde nuestra bodega entre el
Viernes 26 de Julio y el
Viernes 02 de Agosto.
Lo recibirás en cualquier lugar de Internacional entre 1 y 3 días hábiles luego del envío.
Reseña del libro "Grundlagen und Anwendungen der Rasterkraftmikroskopie (en Alemán)"
Dieses Buch konzentriert sich auf das Funktionsprinzip des AFM, seine verschiedenen Modi (d.h. Kontakt-, berührungslose und Klopfmodi), die Analyse einiger AFM-Ergebnisse und einige Anwendungen. Dieses Buch unterstreicht auch die Eigenschaften des AFM als vielseitiges und nützliches morphologisches Werkzeug zum Scannen einer gro en Vielfalt von Oberflächen mit einer planaren Auflösung, die von Nanometerskalen bis hin zu atomaren Skalen reicht. Wir hoffen, dass dieses Buch für Forscher und Studenten hilfreich ist, um das Grundkonzept des AFM zu verstehen und es für verschiedene Arten von Proben einzusetzen.
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
- 0% (0)
Todos los libros de nuestro catálogo son Originales.
El libro está escrito en Alemán.
La encuadernación de esta edición es Tapa Blanda.
✓ Producto agregado correctamente al carro, Ir a Pagar.