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Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)
U. S. Department of Commerce
(Autor)
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· Tapa Blanda
Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés) - U. S. Department of Commerce
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Reseña del libro "Uncertainty Analysis For NIST Noise-Parameter Measurement (en Inglés)"
Some time ago, what is now the Electromagnetics Division of the National Institute of Standards and Technology (NIST) developed the capability to measure noise parameters of amplifiers [1,2]. Recently, modified methods and analysis have been developed and have been applied both to amplifiers [3] and to transistors [4], the latter in an on-wafer environment. For such measurements to be meaningful, the results must be accompanied by corresponding uncertainties.
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